1.       空氣現場硫化氫速測儀/便攜式硫化氫速測儀/便攜式硫化氫檢測儀/硫化氫測定儀 型號：MHY-7137
空氣現場硫化氫速測儀儀器點：
* 可同時顯示出硫化氫的濃度和吸光度值
* 內置充電電池，適用于室內和野外現場樣品中游離硫化氫濃度的定量測定
* 采用單片機控制，具有光譜數據處理能
* 大屏幕液晶中文顯示，單片機智能控制，人機交互式操作, 具有測量、設置、記錄、保存和數據統計處理能
* 化學試劑包顯色，樣品和試劑用量少，防止并減少了二次污染
* 實時顯示環境溫度，可設定顯色時間，便于實驗操作
* 現場比色讀出空氣中硫化氫的含量
* 測定下限：0.01mg/m3
* 測定范圍：0.00-1.00mg/m3
* 測量度：5%

2.  紅寶石探針頭系列 紅寶石探測器 紅寶石探針頭 紅寶石探測儀（A） 型號：MHY-7134
、點
1、 使用幾何尺寸十分的紅寶石軸套，確保探針間距的恒定、準確。
2、 控制寶石內孔與探針之間的縫隙不大于6μｍ，保證探針的小游移率。
3、 采用制的S型懸臂式彈簧，使每根探針都具有立、準確的壓力。
4、 量具度的硬質合金探針，在寶石導孔內穩定運動，持久耐磨。
二、用途
1、 測量硅、鍺單晶（棒料、晶片）電阻率，測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻。
2、 測量導電玻璃（ITO）和其它導電薄膜的方塊電阻。
三、探針間距
1、 直線四探針…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
2、 方形四探針…………… 1.00mm
3、 直線三探針…………… 1.00mm、1.27mm、1.59mm
4、 兩探針    …………… 1.00mm、1.59mm、4.76mm、10.00mm
四、標
1、 游移率  
                  B…………… ＜0.5%
                  A……………＜0.3%
                  AA………… ＜0.2%
                  AAA…………＜0.1%
2、 間距偏差  
                  B…………… ＜3%
                  A…………… ＜2%
                  AA…………  ＜2%
                  AAA………… ＜1%
3、 針與導孔間隙：0.006mm
4、 探針材料：硬質合金（主成份：口碳化鎢）或速鋼
5、 探針壓力      標準壓力：6—10N（4根針總壓力）
                       小壓力：1.2—5N（4根針總壓力）    
                       1牛頓（N）=101.97克
6、 針尖壓痕直徑：25—100μｍ、100—250μｍ（簿層）
7、 500V緣電阻：＞1000MΩ

3.      四探針電阻率測試儀 四探針電阻率檢測儀 四探針電阻率儀 型號：MHY-7130
并針對目前常用的四探針電阻率測試儀存在的問題加以改。整套儀器有如下點：
1、配有雙數字表：塊數字表在測量顯示硅片電阻率的同時，另塊數字表適時監測過程中的電變化，使操作更簡便，測量更。
數字電壓表量程：0—199.9mV 靈敏度：100μV 輸入阻抗：1000ΜΩ
基本誤差±（0.4-0.5%讀數+0.1%滿度）
2、可測電阻率范圍：10—3 —1.9×103Ω·cm。
可測方塊電阻范圍：10—2 —1.9×104Ω/□。
3、設有電壓表自動復零能，當四探針頭1、4探針間未有測量電過時，電壓表零，只有1、4探針接觸到硅片，測量電渡過單晶時，電壓表才示2、3探針間的電壓（即電阻率）值，避免空間雜散電波對測量的干擾。
4、經硅片的測量電由度穩定（分之五度）的制恒源提供，不受氣候條件的影響，整機測量度＜3%。
電量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。
5、儀器采用觸點電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長的轉換開頭及繼電器（＞10次），在緣電阻、電容量方面留有更大的安系數，提了測試儀的可靠性和使用壽命。
6、四探針頭采用際上的紅寶石軸套導向結構，使探針的游移率減小，測量重復性提

4.      表面振動壓實試驗儀/振動壓實試驗儀/振動壓實試驗機 型號：MHY-7129

本儀器是采用表面振動壓實法測定無粘性自由排水粗粒土和巨粒土（包括堆石料）的zui大干密度的試驗儀器。  
1、電源電壓：380V；
2、耗電率：≤looow；
3、振動頻率：47.5Hz；
4、激振力二2.5-4.2KN；
5、夯板作用在試樣表面靜壓力：13、8Kpa；
6、試筒規格：鋁制大筒個內徑280mm，鋁制小筒個內徑152mm；

5.       便攜式四探針電阻率測試儀 四探針電阻率測試儀 四探針電阻率檢測儀 四探針電阻率測定儀 型號：MHY-7128

概述
便攜式電阻測度儀是用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器。
本儀器按照半導體材料電阻率的際及家標準測試方法有關規定。
它主要由電器測量份（主機）及四探頭組成，需要時可加配測試架。
為減小體積，本儀器用同塊數字表測量電及阻率。樣品測試電由寬的恒源提供，隨時可行校準，以確保電阻率測量的準確度。因此本儀器不僅可以用來分材料也可以用來作產品檢測。對1～100Ω•cm標準樣片的測量瓿差不過±3%，在此范圍內達到家標準機的水平。
測量范圍：
可測量 電阻率：0.01～199.9Ω•cm。
可測方塊電阻：0.1～1999Ω/口
當被測材料電阻率≥200Ω•cm數字表顯示0.00。
（2）恒源：
輸出電：DC 0.1mA～10mA分兩檔
10mA量程：0.1～1mA 連續可調
10mA量程：1mA ～10mA連續可調
恒度：各檔均優于±0.1%
適合測量各種厚度的硅片
（3） 直數字電壓表
測量范圍：0～199.9mv
靈敏度：100μv
準確度：0.2%（±2個字）
（4） 供電電源：
AC：220V ±10% 50/60HZ 率8W
（5） 使用環境：
相對濕度≤80%
（6） 重量、體積
重量：2.2 公斤
體積：寬210×100×深240（mm）
（7）KD探針頭
壓痕直徑：30/50μm
間距：1.00mm
探針合力：8±1N
針材：TC